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第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類(lèi)
QT-8100 數(shù)?;旌?IC 測(cè)試系統(tǒng) (Cable-Mount)

適用于常規(guī)DC、AC參數(shù)測(cè)試和混合類(lèi)及模擬類(lèi)IC器件功能性測(cè)試。 主要測(cè)試:電源管理類(lèi),數(shù)碼消費(fèi)類(lèi),馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類(lèi),音頻放大器、運(yùn)放等。



懸浮電源

多Site并行

多通道高精度

支持多種擴(kuò)展

型號(hào) QT-8100
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

數(shù)?;旌螴C測(cè)試系統(tǒng)適用于常規(guī)DC、AC參數(shù)測(cè)試和混合類(lèi)及模擬類(lèi)IC器件功能性測(cè)試。主要測(cè)試:電源管理類(lèi),數(shù)碼消費(fèi)類(lèi),馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類(lèi),音頻放大器、運(yùn)放等

主要特點(diǎn) ? 浮動(dòng)源,數(shù)字頻率25.6MHz,向量深度64M
? 18 bit 高精密采樣
? 600+數(shù)?;旌蠝y(cè)試通道能力,多路1000V/20A高壓大電流
? 多通道高精度時(shí)間測(cè)量單元,支持ns級(jí)別時(shí)間測(cè)量
? 支持RF模組擴(kuò)展
? 高效精準(zhǔn)的通信配置,測(cè)試效率再升級(jí)